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QN8500 膜厚計

  • 更新日期│◕:2016-02-16

只需調零↟◕,無需校準
測量精度高
一體分體通用
可配多種探頭
中英文選單操作
智慧化
帶儲存↟◕,並可連計算機對資料進行處理分析
可連線薄鍍層探頭↟◕,對極薄的鍍層厚度精確測量↟◕,誤差小於±3um

可選探頭│◕:
Fe鐵基探頭│◕:0-2000um 0-5000um
Nfe非鐵基探頭│◕:0-2000um 0-5000um
NFe/Fe兩用探頭│◕:0-2000um 0-5000um
無線傳輸探頭
薄鍍層探頭

 

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